試塊是超聲波探傷的重要設(shè)備之一。在脈沖反射法超聲波探傷過(guò)程中，是通過(guò)儀器熒光屏上反射回波的位置、高度、波形的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)特征變量來(lái)表征被檢材料或工件質(zhì)量的優(yōu)劣的。然而，這些變量與缺陷之間的聲學(xué)關(guān)系是十分復(fù)雜的，同時(shí)還存在著儀器和探頭、材料或工件材質(zhì)、糯合條件等多種影響因素。因此，不能單靠調(diào)節(jié)儀器上的有關(guān)旋鈕和簡(jiǎn)單的計(jì)算結(jié)果來(lái)完成對(duì)缺陷的定性、定量和定位等任務(wù)。所以，采用將儀器檢出變量與已知的簡(jiǎn)單形狀的人工反射體的相應(yīng)位置的已知信號(hào)量進(jìn)行比較的方法來(lái)進(jìn)行評(píng)定。即利用這些人工反射體在熒光屏上的回波為尺度來(lái)衡量被檢材料或工件缺陷的反射回波，從而評(píng)價(jià)其質(zhì)量。我們把這些按照一定用途設(shè)計(jì)制造的、具有特定形狀的人工反射體，稱(chēng)之為試塊。

試塊的用途

1、確定檢測(cè)靈敏度

檢測(cè)靈敏度是儀器和探頭的綜合指標(biāo)。超聲波探傷靈敏度太高或太低都不好，太高雜波多，判傷困難，太低會(huì)引1起漏檢。檢測(cè)之前，應(yīng)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，確定儀器與探頭組合后的檢測(cè)靈敏度。確定好檢測(cè)靈敏度后再利用試塊上某一特定的人工反射體來(lái)調(diào)整檢測(cè)靈敏度。

2、測(cè)試、校驗(yàn)儀器和探頭的性能

超聲波探傷儀和探頭的一些重要性能，如垂直線性、水平線性、動(dòng)態(tài)范圍、靈敏度余量、分辨力、盲區(qū)、探頭的入射點(diǎn)、K值等都是利用試塊來(lái)測(cè)試的。

3、調(diào)整掃描速度（定標(biāo)）

利用試塊可以調(diào)整儀器示波屏上水平刻度值與實(shí)際聲程之間的比例關(guān)系，即掃描速度，以便對(duì)缺陷進(jìn)行定位。

4、評(píng)判缺陷的大小

利用某些試塊繪出的距離一波幅一當(dāng)量曲線（即實(shí)用AVG) 來(lái)對(duì)缺陷定量是目前常用的定量方法之一。特別是3N以?xún)?nèi)的缺陷，采用試塊比較法仍然是最有效的定量方法。此外還可利用試塊來(lái)測(cè)量材料的聲速、衰減性能等。

試塊的分類(lèi)

試塊種類(lèi)很多，從不同的角度可將試塊分為不同的類(lèi)別。

1、按試塊標(biāo)準(zhǔn)化程度分類(lèi)

按試塊的標(biāo)準(zhǔn)化程度可以將試塊分為標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊：

標(biāo)準(zhǔn)試塊：標(biāo)淮試塊是由權(quán)威機(jī)構(gòu)制定的試塊，試塊材質(zhì)、形狀、尺寸及表面狀態(tài)都由權(quán)威部門(mén)統(tǒng)一規(guī)定。國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)試塊和各個(gè)國(guó)家的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)試塊都是標(biāo)準(zhǔn)試塊。如國(guó)際焊接學(xué)會(huì)IIW1試塊和IIW2試塊，又如我國(guó)的CSK-IA、日本的STB-G等試塊。

(2）對(duì)比試塊：對(duì)比試塊又稱(chēng)參考試塊，是由各專(zhuān)業(yè)部門(mén)按檢測(cè)對(duì)象的具體要求，對(duì)材質(zhì)、形狀、尺寸及表面狀態(tài)等作出規(guī)定的試塊。對(duì)比試塊與標(biāo)準(zhǔn)試塊并無(wú)本質(zhì)區(qū)別。如CS-1試塊、CSK-1A試塊等。

2、按試塊上人工反射體形狀分類(lèi)

(1） 平底孔試塊：一般平底孔試塊上加工有底面為平面的平底孔，如CS-1、CS-2試塊。

（2）橫孔試塊：橫孔試塊上加工有與探測(cè)面平行的長(zhǎng)橫孔或短橫孔，如焊縫探傷中CSK-IA（長(zhǎng)橫孔）和CSK-IA(短橫孔）試塊。

（3） 槽形試塊：槽形試塊上加工有三角尖或矩形槽，如無(wú)縫鋼管探傷中的所用的試塊，內(nèi)、外圓表面就加工有三角尖槽。

3、按用途分類(lèi)

按試塊的用途，可將其分為效驗(yàn)試塊和靈敏度試塊。

(1） 效驗(yàn)試塊：用于測(cè)試和效驗(yàn)探傷儀器的技術(shù)性能指標(biāo)的試塊，稱(chēng)為效驗(yàn)試塊。如IIW試塊即是一種效驗(yàn)試塊。效驗(yàn)試塊多以其特定的邊緣作為反射面，因而這種試塊往往沒(méi)有人工缺陷。一般情況下，也叫定量試塊。一般對(duì)比試塊均作為靈敏度試塊使用。