階梯平底試塊(CBI試塊)
- 標準: NB/T47013-2015承壓設備無損檢測標準
階梯平底試塊依據(jù)NB/T47013-2015承壓設備無損檢測標準,適用于用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm的板材,還可用來制作雙晶探頭距離-波幅特性曲線。
階梯平底試塊(CBI試塊)是依據(jù)相關標準設計,用于超聲檢測的一種對比試塊,在承壓設備板材超聲檢測等方面有重要作用。以下是具體介紹:
適用范圍:根據(jù)NB/T 47013.3-2023《承壓設備無損檢測 第3部分:超聲檢測》,CBI試塊適用于用雙晶直探頭檢測厚度6mm - 20mm的承壓設備用板材。
結構特點:CBI試塊為階梯狀,帶有平底孔。其參考反射體為φ5mm平底孔,且反射體個數(shù)至少為3個。這樣的設計便于通過不同階梯位置的平底孔反射波,來校準和評估超聲檢測設備在不同厚度下的檢測性能。
使用方法:在檢測時,將雙晶直探頭置于試塊上,通過試塊上的平底孔反射波來調(diào)整儀器的靈敏度等參數(shù)。例如,用與工件等厚部位試塊的第一次底面回波調(diào)整到滿刻度的50%,再提高10dB,并在考慮相關補償后以此作為基準靈敏度。也可用被檢板材無缺陷完好部位調(diào)節(jié),用被檢板材的第一次底面回波調(diào)整到滿刻度的50%,再提高10dB作為基準靈敏度。通過CBI試塊校準后的超聲檢測設備,可用于對相應厚度范圍的板材進行超聲檢測,以發(fā)現(xiàn)板材中的缺陷等問題。
測試方法:(1)選擇與檢測板等厚或大于檢測板厚的階梯,將探頭置于所選擇的的臺階上,調(diào)節(jié)儀器是第一次底波調(diào)整至滿刻度的50%,在提高10dB,作為基準靈敏度,在基準靈敏度的基礎上再增益6dB作為檢測靈敏度。
(2)此試塊還可用來制作雙晶探頭距離-波幅特性曲線。將選用已校驗好的直探頭置于示意圖1中a位置,前后左右移動探頭使直射聲束在平面上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的50%高度,記錄此時的dB值,此為第一點。探頭置于示意圖1中b位置,前后左右移動探頭使直射聲束在平面上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的50%高度,記錄此時的dB值,此為第二點。探頭置于示意圖1中c位置,前后左右移動探頭使直射聲束在平面上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的50%高度,記錄此時的dB值,此為第三點。以此類推記錄探頭有效檢測范圍內(nèi)所有點,將以上各點連成一條曲線即為標準中規(guī)定的雙晶直探頭距離波幅特性曲線。