CSK-IIA試塊是依據(jù)承壓設(shè)備I型焊接接頭超聲檢測要求而設(shè)計的試塊，符合NB/T 47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)。相關(guān)信息如下：

• 用途：適用于斜探頭、直探頭檢測工件厚度范圍為6mm～200mm的I型焊接接頭，主要用于測定橫波距離-波幅曲線（DAC曲線）、斜探頭的K值和調(diào)整橫波掃描速度和靈敏度等。

• 分類：包括CSK-IIA-1、CSK-IIA-2、CSK-IIA-3三種試塊，不同試塊適用的檢測范圍不同。CSK-IIA-1適用于檢測厚度大于等于6mm至40mm的工件；CSK-IIA-2適用于檢測厚度大于40mm至100mm的工件；CSK-IIA-3適用于檢測厚度大于40mm至200mm的工件。

• 材料：選用電爐或平爐熔煉的碳素結(jié)構(gòu)鋼，成分符合GB/T 699的要求，晶粒度7~8級。

在使用CSK-IIA試塊時，需根據(jù)具體的檢測要求和工件厚度選擇合適的試塊，并按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和操作規(guī)程進(jìn)行操作，以確保檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

CSK - IIA試塊在超聲檢測中用于測定橫波距離 - 波幅曲線、斜探頭的K值以及調(diào)整橫波掃描速度和靈敏度等。以下是其使用方法和注意事項：

使用方法

• 測定斜探頭K值：將斜探頭置于試塊上，使聲束軸線對準(zhǔn)試塊上的特定反射體（如φ40mm、φ44mm、φ50mm的橫孔），通過測量反射波的位置和相關(guān)參數(shù)，計算出斜探頭的K值（K = tanβ，β為折射角）。一般來說，可將探頭在試塊上移動，找到橫孔反射波最高的位置，此時根據(jù)儀器上顯示的聲程和探頭的前沿距離等數(shù)據(jù)，結(jié)合三角函數(shù)關(guān)系計算K值。

• 調(diào)整橫波掃描速度：利用試塊上的不同深度的反射體，如CSK - IIA - 1試塊上的φ1×6橫孔等，通過調(diào)整儀器的掃描參數(shù)，使反射波在熒光屏上的顯示位置與試塊實際尺寸相對應(yīng)，從而實現(xiàn)橫波掃描速度的調(diào)整。例如，使試塊上某一深度的橫孔反射波出現(xiàn)在熒光屏上的特定刻度位置，以此來校準(zhǔn)掃描速度，確保后續(xù)檢測中對缺陷位置的準(zhǔn)確測量。

• 繪制距離 - 波幅曲線（DAC曲線）：在試塊上選取多個不同深度和距離的反射體，如CSK - IIA試塊系列中的不同規(guī)格試塊上的橫孔，分別測量這些反射體的反射波幅度，并記錄其對應(yīng)的距離和波幅數(shù)據(jù)。然后，將這些數(shù)據(jù)繪制在坐標(biāo)紙上，形成距離 - 波幅曲線。該曲線用于在實際檢測中根據(jù)缺陷反射波的幅度和距離來評定缺陷的大小和嚴(yán)重程度。

注意事項

• 試塊的選擇：根據(jù)被檢測工件的厚度，正確選擇CSK - IIA試塊的具體型號。如檢測厚度大于等于6mm至40mm的工件應(yīng)選擇CSK - IIA - 1試塊，以確保試塊的尺寸和反射體分布能滿足檢測要求，保證檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性。

• 表面清潔與耦合：使用前要確保試塊表面清潔，無油污、鐵銹、灰塵等雜質(zhì)，否則會影響探頭與試塊之間的聲耦合效果，導(dǎo)致檢測信號不準(zhǔn)確。在檢測時，需涂抹適量的耦合劑（如凡士林、機(jī)油等），以減少探頭與試塊表面之間的空氣間隙，提高聲能傳遞效率。

• 探頭操作：放置探頭時要注意保持探頭與試塊表面垂直，且移動探頭時應(yīng)平穩(wěn)、緩慢，避免探頭跳動或傾斜，以保證聲束方向的穩(wěn)定性和檢測結(jié)果的重復(fù)性。同時，要根據(jù)試塊的形狀和尺寸，合理選擇探頭的移動方式和路徑，確保能夠全面檢測試塊上的反射體。

• 儀器參數(shù)設(shè)置：在使用試塊進(jìn)行檢測前，需根據(jù)試塊的特性和檢測要求，正確設(shè)置探傷儀的各項參數(shù)，如檢測范圍、增益、衰減等。參數(shù)設(shè)置不當(dāng)可能導(dǎo)致反射波幅度不準(zhǔn)確，影響K值測定、掃描速度調(diào)整和DAC曲線繪制的準(zhǔn)確性。

• 試塊的維護(hù)：使用后要及時清潔試塊，并妥善保管，防止試塊表面劃傷、生銹或損壞。定期對試塊進(jìn)行檢查，如有磨損、變形等情況，應(yīng)及時更換或修復(fù)，以保證試塊的精度和可靠性。